主办单位: 共青团中央   中国科协   教育部   中国社会科学院   全国学联  

承办单位: 贵州大学     

基本信息

项目名称:
集成电路开短路测试
小类:
信息技术
简介:
本集成电路开短路测试主要用于MC34063检测
详细介绍:
本次设计针对测试集成电路的开短路。作品设计以AT89S52,两个CD4051,一个待测芯片MC34063为主,用AT89S52来控制CD4051输入引脚从而使得输出其中一个引脚,此引脚用来连接被侧的其中一个引脚。34063芯片测试仪基本功能是集成电路的开短路测试、基准电压测试、集成电路等级评定;自动分装时能够与机械手系统通信;用数码显示基准电压和集成电路等级评定结果。在评定集成电路等级时,第一种测试仪只需分辨合格与不合格。 芯片的测试分两次。在芯片制造完成后必须对圆片上的芯片(小片)进行测试。测试后进行切割。测试合格的芯片才能进行封装。封装完成后的芯片还要进行第二次测试。当已经封装的芯片被测出故障,厂商应当拆掉封装进行测试,找出故障原因。这时候的故障可能是由于焊接等过程中的静电等原因造成的。

作品图片

  • 集成电路开短路测试
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  • 集成电路开短路测试

作品专业信息

设计、发明的目的和基本思路、创新点、技术关键和主要技术指标

目的:本次设计针对测试集成电路的开短路。 基本思路:作品设计以AT89S52,两个CD4051,一个待测芯片MC34063为主,用AT89S52来控制CD4051输入引脚从而使得输出其中一个引脚,此引脚用来连接被侧的其中一个引脚。 创新点:34063芯片测试仪基本功能是集成电路的开短路测试、基准电压测试、集成电路等级评定;自动分装时能够与机械手系统通信;用数码显示基准电压和集成电路等级评定结果。在评定集成电路等级时,第一种测试仪只需分辨合格与不合格。 技术关键: 芯片的测试分两次。在芯片制造完成后必须对圆片上的芯片(小片)进行测试。测试后进行切割。测试合格的芯片才能进行封装。封装完成后的芯片还要进行第二次测试。当已经封装的芯片被测出故障,厂商应当拆掉封装进行测试,找出故障原因。这时候的故障可能是由于焊接等过程中的静电等原因造成的。 主要技术指标:集成电路测试来测试一个芯片的好使与否

科学性、先进性

对集成电路厂家来说,开短路测试(open short test)是集成电路生产商必须具备的一项关键技术,关系到企业的生存。本次设计主要是针对工业生产中对MC34063芯片的开短路测试。

获奖情况及鉴定结果

作品所处阶段

原理实现、技术成熟、测试成功

技术转让方式

不转让

作品可展示的形式

图片、视频

使用说明,技术特点和优势,适应范围,推广前景的技术性说明,市场分析,经济效益预测

技术特点:用于测试开短路。 优势:构造简单,使用方便,能够在短暂的时间来测试一个芯片的好使。 适应范围:适应在一个厂家来测试芯片,从而来推广在各个厂家。 推广前景:由于我们设计的集成电路测试使用简单,所以一定很受厂家的欢迎。 市场分析:只要这个产品推出,具有很大的潜力,会给厂家带来很大的效益,因此具有很大的市场。 经济效益:我们的作品成品低,造价低,只要厂家用这个产品,不但会节省人力资源,而且会节省时间,从而带来更多的效益.

同类课题研究水平概述

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